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LED恒温恒湿试验试验机市场受热

2014-01-09 作者: 来源:中国教育装备采购网 浏览量: 网友评论: 0

摘要: 台湾地区在2007年成立了LED照明标准及品质提升研发联盟,制订LED恒温恒湿试验试验机,LED光源型式发光二极管交通信号灯及灯箱的“紧急照明灯”及“道路照明”标准,预定在今年再订定11份LED标准草案。据了解,台湾地区也已开始着手制订LED路灯的安全标准规范,预计将于下半年出炉。

  台湾地区在2007年成立了LED照明标准及品质提升研发联盟,制订LED恒温恒湿试验试验机,LED光源型式发光二极管交通信号灯及灯箱的“紧急照明灯”及“道路照明”标准,预定在今年再订定11份LED标准草案。据了解,台湾地区也已开始着手制订LED路灯的安全标准规范,预计将于下半年出炉。

  LED光源和LED灯具的测试标准主要包括:LED高低温老化箱,LED光源高温老化试验,LED老化测试,LED灯具高温老化,LED光源高低温循环试验,LED灯具高低温测试,LED高温高湿试验,LED光源高温高湿测试,LED灯具高温高湿实验,LED湿热老化试验,LED高低温湿热试验,LED灯具冷热冲击试验,LED光源高低温冲击试验,LED恒温恒湿试验,LED温湿度试验,LED紫外线老化试验,LED盐雾腐蚀试验,LED灯具振动试验,LED跌落试验,LED包装运输抗压试验等。

  LED光源和灯具近些年在照明工程中的应用越来越普遍,但由于缺乏相关的标准,LED照明产品种类虽多,品质却参差不齐。随着LED照明产业的快速发展,国际、国内均开始重视相关测试标准的制定。

  一、国际标准制定现况

  当前,美国国家标准检测研究所(NIST)正在开展LED测试方法的研究,准备建立整套的LED测试方法和标准;日本也成立了“白光LED测试研究委员会”,专门研究照明用白光LED的高低温测试方法和技术标准(高低温循环测试箱)。世界发达国家为了抢占LED产业先机,在LED标准和测试方面都投入了大量的人力物力,在标准方面注重选择LED特性参数及测试方法研究。同时,许多国外大公司的研究和开发人员正在积极参与国家和国际专业化组织,制订半导体照明高低温测试(LED高温高湿试验箱)标准。

  国际照明委员会(CIE)1997年发表的CIE127-1997LED测试方法,把LED强度测试确定为平均强度的概念,并且规定了统一的测试结构和探测器大小,为LED的准确测试比对奠定了基础。虽然CIE127-1997测试方法并非国际标准,但它容易实施准确测试比对,目前世界上主要企业都已采用。但是随着技术的快速发展,许多新的LED技术特性在CIE127-1997LED高温高湿测试方法中没有涉及。

  在有关LED标准的制定方面,日本也是十分努力。如日本Nichia就曾与美国Lumileds进行各自LED技术的交叉授权,并准备联合制订功率型LED标准,以推动市场应用,并促使LED产业的发展更为稳固。

  目前,美国产品安全认证和标准安全制定组织UL(UnderwritersLaboratoriesInc.)正在着手开发一系列涉及LED产品的安全评定标准。

  UL公司照明策划商务部总经理EliPuszkar表示,为了保证新的LED照明产品能够像普通照明灯具一样为大众所接受和信赖,UL已开始着手编制LED的安全性评定标准。当开发设计一款新产品的时候,生产商应该考虑防止产生触电、火灾、生理危害等影响安全的因素。

  二、国内标准制定进展

  国家科技部办公厅副秘书长郑国安曾指出,我国拥有巨大的照明市场和雄厚的照明工业基础,是世界上电光源和照明电器生产大国和出口大国之一。LED光源在道路照明中的应用已成为近年来半导体照明行业的热点,目前国内外已有超过百家企业投入到半导体路灯的开发中,但都还没有投入大批量生产,原因除了技术有待突破外,产品标准的缺位是制约LED路灯大规模应用的主要因素之一。他希望通过政府和产业界的努力,推动LED公共照明标准的研究与应用。

  前不久,在北京举行的“2008年LED户外公共照明技术标准研讨会”上,中国国家标准化管理委员会的代表透露,目前该委员会已立项开展11项LED照明国家标准的制定工作,年内就要上报标准委。

  近日,福建省提出中国大陆首个LED灯具地方标准,在这个由福建省质监局、福州大学等单位和LED灯具企业的专家共同审订的LED灯具地方标准中规定,LED灯具的使用寿命不应低于1万小时。

  目前,国际照明委员会(CIE)和国际电工委员会(IEC)都还没有关于LED照明的标准,只有有关普通LED的测试标准和与普通光源有关的照明方面的标准。普通LED的测试标准有:

  1、IEC60747-5半导体分立器件及集成电路(1992);

  2、IEC60747-5-2半导体分立器件及集成电路零部件,5-2:光电子器件——分类特征及要素(1997-09);

  3、IEC60747-5-3半导体分立器件及集成电路,5-3:光电子器件——测试方法(1997-08);

  4、IEC60747-12-3半导体分立器件,12-3:光电子器件——显示用发光二极管空白详细标准(1998-02);

  5、CIE127-1997LED测试方法(1997);

  6、CIE/ISOLED强度测试标准。

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